如何用内部逻辑分析仪调试FPGA？

1 推动FPGA调试技术改变的原因

　　进行硬件设计的功能调试时，FPGA的再编程能力是关键的优点。CPLD和FPGA早期使用时，如果发现设计不能正常工作，工程师就使用“调试钩”的方法。先将要观察的FPGA内部信号引到引脚，然后用外部的逻辑分析仪捕获数据。然而当设计的复杂程度增加时，这个方法就不再适合了，其中有几个原因。第一是由于FPGA的功能增加了，而器件的引脚数目却缓慢地增长。因此，可用逻辑对I/O的比率减小了，参见图1。此外，设计很复杂时，通常完成设计后只有几个空余的引脚，或者根本就没有空余的引脚能用于调试。