长川科技申请同步测试信号生成系统及同步测试信号生成方法专利，解决了测试机数字板卡的FPGA芯片资源紧张且信号时序相互影响难以收敛的问题想做好早教工作，需要准备这本书，助孩子抓住脑部发育黄金期

时间：2024-08-09 来源：网络搜集关于我们 0

金融界2024年4月10日消息，据国家知识产权局公告，杭州长川科技股份有限公司申请一项名为“同步测试信号生成系统及同步测试信号生成方法“，公开号CN117849598A，申请日期为2023年12月。

专利摘要显示，本申请涉及一种同步测试信号生成系统及方法，该系统包括主控板和多个测试板，所述测试板包括第一控制单元和第二控制单元，主控板向多个测试板发送同步时钟信号；基于同步时钟信号，主控板向多个测试板的第一控制单元下发测试指令；第一控制单元将测试指令发送至第二控制单元，第二控制单元将测试指令转换为对应的测试向量并发送至第一控制单元，第一控制单元将测试向量转换为对应的同步测试信号输出，该系统通过两个控制单元分别承担生成测试向量和生成测试信号的功能，解决了测试机数字板卡的FPGA芯片资源紧张且信号时序相互影响难以收敛的问题。